芯片测试座_传感器老化座_编程烧录座_测试夹具_弹片微针模组_ddr/bga/hast/memory测试_深圳谷易电子
| 类型 | 内容 |
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| 网站域名 | www.goodesocket.com |
| 所属分类 | 电脑/网络 |
| 网站标题 | 芯片测试座_传感器老化座_编程烧录座_测试夹具_弹片微针模组_ddr/bga/hast/memory测试_深圳谷易电子 |
| 关键词 | 芯片测试座,芯片老化座,编程烧录座,芯片测试夹具,弹片微针模组,hast测试,ddr老化座,bga测试座,传感器测试座,bga老化测试,memory测试座 |
| 描述 | 谷易电子面向hast、ddr、bga、memory、htol老化测试，提供老化测试座以及老化板服务、为芯片设计公司定制IC分析测试座、夹球测试座、封测厂提供final test的ATE测试座以及手动IC socket、应对板对板（BTB）连接器的弹片微针模组。 |
| 网站IP地址 | 120.76.195.178 |